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從原理到報(bào)告:焊接強(qiáng)度測試機(jī)執(zhí)行BGA銅柱剪切力測試的完整指南

 更新時(shí)間:2025-11-17 點(diǎn)擊量:171

在電子產(chǎn)品日益追求高性能、小型化及高可靠性的今天,球柵陣列封裝技術(shù)已成為集成電路封裝的絕對主流。作為BGA封裝中的關(guān)鍵互連結(jié)構(gòu),焊點(diǎn)的機(jī)械強(qiáng)度直接決定了整個器件在后續(xù)組裝、運(yùn)輸及使用過程中抵抗物理應(yīng)力的能力,是影響產(chǎn)品長期可靠性的生命線。image.png

本文科準(zhǔn)測控小編將圍繞BGA銅柱的剪切力測試,詳細(xì)闡述其測試原理、遵循的國際標(biāo)準(zhǔn)、推薦的專業(yè)檢測儀器及標(biāo)準(zhǔn)化的測試流程,為相關(guān)行業(yè)的品質(zhì)控制與可靠性評估提供一套完整的技術(shù)解決方案。

 

一、測試原理

BGA銅柱剪切力測試的基本原理是通過一個精密的剪切工具,在平行于PCB基板或芯片載板的方向上,以恒定的速度對單個銅柱焊點(diǎn)施加一個推力。這個推力持續(xù)增加,直至銅柱與焊盤之間的連接發(fā)生失效。測試機(jī)實(shí)時(shí)記錄整個過程中施加的力與位移的變化,從而得到一條力-位移曲線。

通過分析這條曲線,我們可以獲得:

最大剪切力:即曲線上的峰值力,代表該焊點(diǎn)所能承受的最大剪切載荷,直接反映其機(jī)械強(qiáng)度。

失效模式:通過顯微鏡觀察失效后的焊盤界面,可以判斷失效是發(fā)生在焊料內(nèi)部、銅柱與焊料界面,還是焊料與焊盤界面。

二、測試標(biāo)準(zhǔn)

JEDEC JESD22-B117A:《焊接球剪切測試》

JEDEC JESD22-B117B:《焊接球剪切測試》(可能是A版的修訂或補(bǔ)充)

JEITA ET-7409:《半導(dǎo)體器件的板級可靠性試驗(yàn)方法》

三、測試儀器

1、Alpha W260焊接強(qiáng)度測試機(jī)

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該設(shè)備是專為微焊接點(diǎn)強(qiáng)度測試而設(shè)計(jì)的高精度儀器,完quan滿足上述國際標(biāo)準(zhǔn)的測試要求。

儀器主要特點(diǎn):

高精度力值傳感器:提供多種量程選擇(如2kgf, 5kgf, 20kgf, 50kgf),確保即使是微小的銅柱焊點(diǎn)也能被精確測量。

精密的剪切工具:配備多種規(guī)格的剪切工具,工具開口經(jīng)過特殊設(shè)計(jì),以確保在推切銅柱時(shí)不會碰到基板或相鄰的焊點(diǎn)。

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高分辨率位移控制:X, Y, Z三軸均采用高精度步進(jìn)電機(jī)或伺服電機(jī)控制,定位精度可達(dá)微米級,確保剪切工具與銅柱之間的對位和間隙設(shè)定準(zhǔn)確無誤。

用戶友好軟件:內(nèi)置的專業(yè)測試軟件能夠?qū)崟r(shí)顯示力-位移曲線,自動計(jì)算最大剪切力、能量等參數(shù),并生成詳細(xì)的測試報(bào)告。

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高倍率視頻觀測系統(tǒng):集成顯微鏡和攝像頭,便于精確對位,并能在測試后立即觀察和記錄失效模式。

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四、測試流程

步驟一、樣品制備

將待測的BGA芯片或已完成焊接的樣板固定在測試機(jī)的夾具上,確保樣品水平且牢固。

步驟二、工具選擇與安裝

根據(jù)BGA銅柱的直徑和間距,選擇合適的剪切工具。工具的開口寬度必須大于銅柱直徑但小于相鄰銅柱的間距。

步驟三、參數(shù)設(shè)置

在測試軟件中設(shè)置測試參數(shù),主要包括:

測試速度:根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)推薦,通常設(shè)定在100 μm/s至1000 μm/s范圍內(nèi)。

剪切高度:這是關(guān)鍵參數(shù)。指工具底面與基板或芯片表面之間的距離。標(biāo)準(zhǔn)通常規(guī)定為焊點(diǎn)高度的某個百分比(如25%),對于銅柱,需精確設(shè)定以避免損傷基板或推切位置不當(dāng)。

回程高度:測試完成后工具自動抬升的高度。

步驟四、對位

使用設(shè)備自帶的高倍率攝像頭,精細(xì)移動剪切工具,使其對準(zhǔn)待測銅柱的一側(cè),并確保工具與銅柱之間保持設(shè)定的剪切高度間隙。

步驟五、執(zhí)行測試

啟動測試程序。設(shè)備將自動驅(qū)動剪切工具以恒定速度推切銅柱,直至其wan全脫落。軟件同步記錄全過程數(shù)據(jù)。

步驟六、數(shù)據(jù)記錄與失效分析

測試完成后,軟件自動生成測試報(bào)告,記錄最大剪切力值。

將樣品取下,在光學(xué)顯微鏡或掃描電子顯微鏡下觀察失效界面,判斷并記錄失效模式(如:界面斷裂、焊料內(nèi)聚斷裂、銅柱斷裂等)。

步驟七、結(jié)果統(tǒng)計(jì)與報(bào)告

對同一批次的多個樣品進(jìn)行測試后,統(tǒng)計(jì)分析剪切力數(shù)據(jù)(如平均值、標(biāo)準(zhǔn)差、CPK值),并結(jié)合失效模式,最終形成完整的測試評估報(bào)告。

 

以上就是小編介紹的有關(guān)于BGA銅柱剪切力測試相關(guān)內(nèi)容了,希望可以給大家?guī)韼椭H绻€對推拉力測試機(jī)怎么使用視頻和圖解,使用步驟及注意事項(xiàng)、作業(yè)指導(dǎo)書,原理、怎么校準(zhǔn)、杠桿如何校準(zhǔn)和使用方法視頻,推拉力測試儀操作規(guī)范、使用方法和測試視頻,剪切力測試機(jī)方法和標(biāo)準(zhǔn),dage4000推拉力測試機(jī)、mfm1200推拉力測試機(jī)、鍵合拉力機(jī)和鍵合強(qiáng)度測試機(jī),焊接強(qiáng)度測試儀使用方法和鍵合拉力測試儀等問題感興趣,歡迎關(guān)注我們,也可以給我們私信和留言?!究茰?zhǔn)測控】小編將持續(xù)為大家分享推拉力測試機(jī)在鋰電池電阻、晶圓、硅晶片、IC半導(dǎo)體、BGA元件焊點(diǎn)、ALMP封裝、微電子封裝、LED封裝、TO封裝等領(lǐng)域應(yīng)用中可能遇到的問題及解決方案。

 


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